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德國超聲波掃描顯微鏡

簡要描述:名稱:德國超聲波掃描顯微鏡
型號:V-400E
產地:德國
應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

  • 產品型號:V 400E
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-08-03
  • 訪  問  量:7878

詳細介紹

名稱:德國超聲波掃描顯微鏡

產品介紹:

名稱:德國超聲波掃描顯微鏡

型號:V-400E

產地:德國

應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠等)

 

產品應用:

聲掃顯微鏡應用領域:

  • 半導體電子行業:半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
  • 材料行業:復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
  • 生物醫學:活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等

在失效分析中的應用:

  • 晶圓面處分層缺陷
  • 錫球、晶圓、或填膠中的開裂
  • 晶圓的傾斜
  • 各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

聲掃顯微鏡的在失效分析中的優勢:

  • 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內部結構
  • 可分層掃描、多層掃描
  • 實施、直觀的圖像及分析
  • 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計
  • 可顯示材料內部的三維圖像
  • 對人體是沒有傷害的
  • 可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)

 

主要參數:

  • -該型號顯微鏡系統是實驗室、研發和工業生產線主流機型。
  • - 掃描速度可達:2000mm/s
  • - 與其它品牌機型相比掃描效率高30%
  • - 大掃描范圍:400mm×400mm
  • - 小掃描范圍:200μm×200μm
  • - 射頻大帶寬:500MHz
  • - 新型FCT防誤判探頭

 

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